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Genaue Erfassung von Brechzahlprofilen
Wie bereits in den vorherigen Jahren wird Prof. Dr. Jens Bliedtner, Fachbereich SciTec der Fachhochschule Jena, bei der diesjährigen Hannover Messe in der kommenden Woche ein Forschungsprojekt ausstellen.

Traditionell ist die FH Jena Mitaussteller des Gemeinschaftsstandes "Forschung für die Zukunft" der Hochschulen Mitteldeutschlands, der vom 19. bis 23. April als Stand 37 im "Future Parc" der Messe in Halle 2 zu finden ist.

Professor Bliedtner stellt ein neues Messverfahren zur Bestimmung des Brechungsindexes vor. Dieses ermöglicht mit hoher Genauigkeit und geringem Mess- und Präparationsaufwand die Erfassung von Brechzahlprofilen und ist auch für die Vermessung optischer Bauteile im Makromaßstab geeignet.

Das neue Verfahren erlaubt außerdem eine Homogenitätsprüfung hinsichtlich Brechzahlkontinuität. Dabei können sowohl transparente als auch teiltransparente und nicht transparente Festkörper vermessen werden. Die Anwendbarkeit des Verfahrens für eine Vielfalt von Materialien eröffnet einen breiten Markt in den unterschiedlichsten Branchen.

Unter dem Motto „Effizienter - Innovativer – Nachhaltiger“ zeigt die HANNOVER MESSE 2010 Innovationen, Entwicklungen und Technologien sowie neue Materialien aus der Welt der Industrie.

Den Artikel finden Sie unter:

http://www.fh-jena.de/index.php/page/231/5935

Quelle: Fachhochschule Jena (04/2010)
Carl - Zeiss - Promenade 2
07745 Jena
 
 
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