| Chemische Analytik auf der Nanometer-Skala |
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Ein neues Großgerät im Wert von 1,1 Millionen Euro geht an der Justus-Liebig-Universität Gießen am 30. Januar 2007 (15.30 Uhr im Chemiegebäude, Heinrich-Buff-Ring 58, Untergeschoss, Raum I U 35) mit einer kleinen Feier in Betrieb. Das Flugzeit-Massenspektrometer "TOF.SIMS 5" der deutschen Fa. ION-TOF aus dem westfälischen Münster ergänzt die Grundausstattung der Materialwissenschaften im Hinblick auf nanotechnologische und bioanalytische Fragestellungen. Es wird von der Arbeitsgruppe um Prof. Dr. Jürgen Janek am Physikalisch-chemischen Institut betrieben und erweitert das instrumentell-analytische Methodenspektrum beträchtlich. In einem Flugzeit-Massenspektrometer werden die atomaren oder molekularen Bestandteile einer zu analysierenden Substanz mittels eines rasternden Ionenstrahls Lage für Lage abgetragen und gemäß ihrer Masse erfasst. Mit Hilfe eines zweiten intensiveren Ionenstrahls kann auf diese Weise dreidimensionale Information über die chemische Zusammensetzung eines Materials gewonnen werden - mit einer Tiefenauflösung bis zu wenigen Nanometern und einer lateralen Auflösung von ca. 100 nm. Die Anwendungen dieser Technik sind vielfältig und reichen von Fragestellungen in der Halbleiter- und Oberflächentechnologie bis hin zur Untersuchung von biologischen Materialien. Typische Aufgaben sind die Analyse von dünnsten Oberflächenfilmen oder von Eindringtiefen von Verunreinigungen in Materialien für physikalische Hochtechnologien. Weitere interessante Links finden Sie in der Rubrik Nanoanalytik auf analytik.de.
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