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JEOL: Markteinführung des neuen Benchtop-Rasterelektronenmikroskops NeoScopeTM der JCM-7000-Se


11.03.2019

? Benchtop-REM mit nahtlosem Betrieb von optischer bis zur REM-Bildgebung und Elementaranalyse ?

JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (www.jeol.com) (President Gon-emon Kurihara) gibt Veröffentlichung eines neuen Rasterelektronenmikroskops (REM) bekannt, des NeoScopeTM der JCM-7000-Serie, das im März 2019 auf den Markt kommt.

Diese Pressemitteilung enthält multimediale Inhalte. Die vollständige Mitteilung hier ansehen: https://www.businesswire.com/news/home/20190311005831/de/

JCM-7000 NeoScope(TM) Benchtop Scanning Electron Microscope (Photo: Business Wire)

JCM-7000 NeoScope(TM) Benchtop Scanning Electron Microscope (Photo: Business Wire)

Hintergrund der Produktentwicklung

Benchtop-Rasterelektronenmikroskope werden in einer Vielzahl von Bereichen eingesetzt, wie etwa der Elektro-, Elektronik-, Automobil-, Maschinen-, Chemie- und Pharmabranche. Darüber hinaus erstrecken sich REM-Anwendungen nicht nur auf Forschung und Entwicklung, sondern auch auf Qualitätskontrolle und Produktprüfung an Produktionsstandorten. Damit steigen die Forderungen nach weiter verbesserter Arbeitseffizienz, wesentlich schnellerer und einfacherer Bedienung sowie einem höheren Maß an Analyse- und Messmöglichkeiten.

Basierend auf den sehr erfolgreichen und preisgekrönten Vorgängern, den REM der InTouchScopeTM-Serie, haben wir das neue Benchtop-REM JCM-7000 entwickelt, um steigenden Anforderungen auf dem Markt gerecht zu werden. Die JCM-7000-Serie verfügt über innovative Funktionen, die mit denen der InTouchScopeTM-Serie vergleichbar sind. Zu den Merkmalen der JCM-7000-Serie gehören 1) Einfache Benutzeroberfläche für gute Bedienbarkeit, 2) Geringer Platzbedarf, 3) Nahtloser Übergang von der optischen Mikroskopie zur REM-Bildgebung mit ?Zeromag?-Funktion, 4) Echtzeit-Elementanalyse bei der Bildbeobachtung mit ?Live Analysis?-Funktion und 5) Zweiachsiger (X, Y) motorisierter Tisch für einen reibungslosen Betrieb.

Darüber hinaus verfügt das JCM-7000 über die Funktion ?Live 3D?, die gleichzeitig ein Live-REM-Bild und ein rekonstruiertes Live-3D-Oberflächenbild anzeigt. Diese neue Funktion ermöglicht es Ihnen auch, topografische Informationen und Tiefeninformationen von Proben zusammen mit REM-Bildinformationen der Probenoberflächen zu erfassen.

Haupteigenschaften

  1. Mit unserer ?Zeromag?-Funktion ist die Probennavigation noch einfacher als je zuvor. ?Zeromag? verknüpft das CCD-Bild mit Farbinformationen mit dem REM-Bild bei Oberflächendetails und ermöglicht Ihnen, Bereiche für Bildgebung und Analyse schnell zu finden.
  2. Mithilfe eines 2-achsigen (X, Y) motorisierten Tisches wird die Arbeitseffizienz verbessert und Montagebilder können problemlos für große Probenbereiche gesammelt werden.
  3. Mit unserer Serie Analytical (?Live Analysis?-Funktion) zeigt das eingebettete EDS-System ein Echtzeit-EDS-Spektrum während der Bildbeobachtung für schnelle und effiziente Elementaranalyse.
  4. Eine neue ?Live 3D?-Funktion ermöglicht die gleichzeitige Betrachtung von Live-REM-Bildern und rekonstruierten Live-3D-Oberflächenbildern sowie die Erfassung von Topographie- und Tiefeninformationen.

Jahresabsatzziel
400 Einheiten/Jahr

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Gon-emon Kurihara, President und Representative Director
(Börsenkürzel: 6951, Tokyo Stock Exchange First Section)
www.jeol.com

Die Ausgangssprache, in der der Originaltext veröffentlicht wird, ist die offizielle und autorisierte Version. Übersetzungen werden zur besseren Verständigung mitgeliefert. Nur die Sprachversion, die im Original veröffentlicht wurde, ist rechtsgültig. Gleichen Sie deshalb Übersetzungen mit der originalen Sprachversion der Veröffentlichung ab.


Kontakt:

JEOL Ltd.
Science and Measurement Instruments Sales Division
Naohiko Kaneda
+81-3-6262-3560
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html



Link zum Artikel: http://www.businesswire.com/news/home/20190311005831/de/
 
 
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